BS ISO 25498-2010
微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析已作废

Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope

BS ISO 25498-2010 发布历史

BS ISO 25498-2010由英国标准学会 GB-BSI 发布于 2010-06-30，并于 2010-06-30 实施，于 2018-03-23 废止。

BS ISO 25498-2010 在中国标准分类中归属于: G04 基础标准与通用方法。

BS ISO 25498-2010的历代版本如下：

• 2010年06月30日 BS ISO 25498-2010 微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析
• 2018年03月23日 BS ISO 25498-2018 微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析

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标准号

BS ISO 25498-2010

发布日期

2010年06月30日

实施日期

2010年06月30日

废止日期

2018-03-23

中国标准分类号

G04

发布单位

GB-BSI

代替标准

BS ISO 25498-2018