IEC 61000-4-20:2010
电磁兼容性(EMC).第4-20部分:试验和测量技术.横向电磁波导(TEM)辐射和干扰试验

Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-20: Testing and measurement techniques - Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides

被代替

IEC 61000-4-20:2010 发布历史

IEC 61000-4-20:2010由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 2010-08，并于 2010-09-02 实施。

IEC 61000-4-20:2010 在中国标准分类中归属于: L06 电磁兼容，在国际标准分类中归属于: 33.100.10 发射,33.100.20 抗扰度。

本标准有等同采用的 中文版 GB/T 17626.20-2014 电磁兼容 试验和测量技术 横电磁波(TEM)波导中的发射和抗扰度试验

IEC 61000-4-20:2010 电磁兼容性(EMC).第4-20部分:试验和测量技术.横向电磁波导(TEM)辐射和干扰试验的最新版本是哪一版？

最新版本是 IEC 61000-4-20:2022 。

IEC 61000-4-20:2010的历代版本如下：

• 2022年 IEC 61000-4-20:2022 电磁兼容性（EMC）.第4-20部分:试验和测量技术.横向电磁（TEM）波导中的发射和抗扰度试验
• 2010年 IEC 61000-4-20:2010 电磁兼容性(EMC).第4-20部分:试验和测量技术.横向电磁波导(TEM)辐射和干扰试验
• 2007年 IEC 61000-4-20:2007 电磁兼容性(EMC).第4-20部分:试验和测量方法.横向电磁(TEM)波导的辐射和干扰试验
• 1970年 IEC 61000-4-20:2003/AMD1:2006 修改件1 电磁兼容性 (EMC) 第4-20部分：测试和测量技术 横向电磁 (TEM) 波导中的发射和抗扰度测试
• 2003年 IEC 61000-4-20:2003 电磁兼容性.第4-20部分:试验和测量方法.横向电磁波导辐射和干扰试验

范围和对象 IEC 61000 的本部分涉及使用各种类型横向电磁 (TEM) 波导的电气和电子设备的发射和抗扰度测试方法。这些类型包括开放结构（例如带状线和电磁脉冲模拟器）和封闭结构（例如 TEM 单元）。这些结构可以进一步分为一二或多端口 TEM 波导。频率范围取决于具体的测试要求和具体的 TEM 波导类型。该标准的目的是描述？ TEM 波导特性@，包括典型频率范围和 EUT 尺寸限制； ？ EMC 测试的 TEM 波导验证方法； ？ EUT（即EUT机柜和布线）定义； ？测试设置@程序@以及TEM波导辐射发射测试的要求和？ TEM 波导辐射抗扰度测试的测试设置@程序@和要求。注：本标准定义了测量电磁辐射对设备的影响以及相关设备的电磁发射的测试方法。电磁辐射的模拟和测量对于定量确定所有最终用途装置的影响而言不够精确。定义的测试方法的主要目标是在各种测试设施上建立足够的结果重复性，以进行效果的定性分析。本标准无意指定应用于任何特定设备或系统的测试。该标准的主要目的是为 IEC 所有感兴趣的产品委员会提供通用的基本参考。对于辐射发射测试，产品委员会应根据 CISPR 标准选择发射限值和测试方法。对于辐射抗扰度测试@产品委员会仍然负责适当选择抗扰度测试和抗扰度测试限值以应用于其范围内的设备。本标准描述的测试方法与 IEC 61000-4-3.1 1 的测试方法不同，当产品委员会@与 CISPR 和 TC 77 协商指定时，可以使用这些其他不同的测试方法。

标准号

IEC 61000-4-20:2010

发布

2010年

中文版

GB/T 17626.20-2014 (等同采用的中文版本)

发布单位

国际电工委员会

替代标准

IEC 61000-4-20:2022

当前最新

IEC 61000-4-20:2022

 

 

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