GB/T 12085.11-2010
光学和光学仪器 环境试验方法 第11部分:长霉

Optics and optical instruments.Environmental test methods.Part 11:Mould growth


GB/T 12085.11-2010 中,可能用到以下仪器设备

 

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GB/T 12085.11-2010



标准号
GB/T 12085.11-2010
发布日期
2011年01月14日
实施日期
2011年05月01日
废止日期
中国标准分类号
N30
国际标准分类号
37.020
发布单位
CN-GB
引用标准
GB/T 12085.1
被代替标准
GB/T 12085.11-1989
适用范围
本部分规定了长霉试验用的菌种,试验条件、条件试验及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本部分不适用于常规生产检查。 本试验的目的是研究长霉对试样的光学、热学、化学、机械和电气的工作性能的影响程度,及估价霉菌代谢产物(如酶或酸性物质)导致对零件的腐蚀程度或引起线路板的短路等严重程度。

GB/T 12085.11-2010系列标准

GB/T 12085.1-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第1部分:术语、试验范围 GB/T 12085.10-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第10部分:振动(正弦)与高温、低温综合试验 GB/T 12085.11-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第11部分:长霉 GB/T 12085.12-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第12部分:污染 GB/T 12085.13-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第13部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验 GB/T 12085.14-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第14部分:露、霜、冰 GB/T 12085.15-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第15部分:宽带随机振动(数字控制)与高温、低温综合试验 GB/T 12085.16-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第16部分:弹跳或恒加速度与高温、低温综合试验 GB/T 12085.17-2011 光学和光学仪器.环境试验方法.第17部分 污染、太阳辐射综合试验 GB/T 12085.18-2011 光学和光学仪器.环境试验方法.第18部分:湿热、低内压综合试验 GB/T 12085.19-2011 光学和光学仪器.环境试验方法.第19部分:温度周期与正弦振动、随机振动综合试验 GB/T 12085.2-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第2部分:低温、高温、湿热 GB/T 12085.20-2011 光学和光学仪器 环境试验方法 第20部分:含二氧化硫、硫化氢的湿空气 GB/T 12085.21-2011 光学和光学仪器.环境试验方法.第21部分:低压与大气温度、高温综合试验 GB/T 12085.3-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第3部分:机械作用力 GB/T 12085.4-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第4部分:盐雾 GB/T 12085.5-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第5部分:低温、低气压综合试验 GB/T 12085.6-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第6部分:砂尘 GB/T 12085.7-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第7部分:滴水、淋雨 GB/T 12085.8-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第8部分:高压、低压、浸没 GB/T 12085.9-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第9部分:太阳辐射

GB/T 12085.11-2010 中可能用到的仪器设备


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