ISO 10110-8:2010
光学和光学仪器.光学元件和系统制图准备.第8部分:表面结构,粗糙度和波状起伏

Optics and photonics - Preparation of drawings for optical elements and systems - Part 8: Surface texture; roughness and waviness


标准号
ISO 10110-8:2010
发布
2010年
发布单位
国际标准化组织
替代标准
ISO 10110-8:2019
当前最新
ISO 10110-8:2019
 
 
引用标准
ISO 1302:2002 ISO 4287:1997
适用范围
ISO 10110 规定了用于制造和检验的技术图纸中光学元件的设计和功能要求的表示。 ISO 10110的本部分规定了光学元件表面纹理的指示规则。 表面纹理是可以用统计方法有效描述的表面特征。 通常,表面纹理与高空间频率误差(粗糙度)和中空间频率误差(波纹度)相关。 ISO 10110 的这一部分主要用于抛光光学器件的规范。 ISO 10110 的这一部分描述了一种通过减去表面形状来表征去趋势后留下的残余表面的方法。 表面形状的控制在ISO 10110-5和ISO 10110-12中有规定,在ISO 10110的本部分中没有规定。

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