DLA MIL-PRF-19500/733 B-2010
半导体器件，场效应辐射硬化（总剂量和单事件效应）晶体管，P 沟道，硅，类型 2N7523T1、2N7523U2、2N7524T1 和 2N7524U2，JANTXVR，F 和 JANSR，F

SEMICONDUCTOR DEVICE, FIELD EFFECT RADIATION HARDENED (TOTAL DOSE AND SINGLE EVENT EFFECTS) TRANSISTORS, P-CHANNEL, SILICON, TYPES 2N7523T1, 2N7523U2, 2N7524T1, AND 2N7524U2, JANTXVR, F AND JANSR, F


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标准号
DLA MIL-PRF-19500/733 B-2010
发布
2010年
发布单位
美国国防后勤局
 
 

DLA MIL-PRF-19500/733 B-2010相似标准

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