ASTM C1371-04a(2010)e1
用便携式放射仪确定接近室温材料的放射性标准试验方法

Standard Test Method for Determination of Emittance of Materials Near Room Temperature Using Portable Emissometers

被代替

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标准号

ASTM C1371-04a(2010)e1

发布

2004年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM C1371-15

当前最新

ASTM C1371-15(2022)

 

 

适用范围

表面发射率测试：如果材料表面的发射率较低，则热辐射传热会减少。由于绝缘材料使用的控制因素有时是冷凝控制或人员保护，因此需要注意的是，低发射率也会改变材料的表面温度。选择这些材料的一个可能的标准是老化对表面发射率的影响问题。如果材料在使用过程中不能保持最初的低表面发射率，那么材料的长期价值就会降低。该测试方法提供了一种在现场对低发射率表面进行比较定期测试的方法。通过这种方式，可以监测老化对反射特性的影响。如果注意避免潜在的误用，该测试方法可用于测量总半球发射率，其精度优于±0.02个单位。 (1) 校准标准的发射度应通过准确独立测量总半球发射度获得。该测试方法不适用于高度各向异性或对红外辐射透明的样品。该测试方法也不得用于具有显着热阻的样品（见 7.3.4）。
1.1 该测试方法涵盖使用便携式差动热电堆发射率测定典型材料发射率的技术。该测试方法的目的是提供一种比较方法，用于量化接近室温的不透明高导热材料的发射率，作为评估材料的温度、热流和衍生热阻的参数。
1.2 本测试方法不取代测试方法 C835（测定总半球发射率的绝对方法）或测试方法 E408（包含两种测定总法向发射率的比较方法）。由于便携式发射计的独特结构，可以对其进行校准以测量总半球发射率。辐射计测量值与测试方法 C835 (1) 的比较支持了这一点。
1.3 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

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