-05-017GB/T 6159.1-2014缩微摄影技术 词汇 第1部分:一般术语GB/T 6159.1-20032015-04-158GB/T 6159.3-2014缩微摄影技术 词汇 第3部分:胶片处理GB/T 6159.3-20032015-04-159GB/T 6159.4-2014缩微摄影技术 词汇 第4部分:材料和包装物GB/T 6159.4-20032015-04-1510GB...
模块化设计支持全套测试技术,包括 800°C 加热,刮擦测试,5轴样品定位,电气特性,动态疲劳测试等。 除了直接利用压痕功能压缩微柱,颗粒和其他小尺寸结构以测量应力应变行为和屈服特性并同时实时观察变形机制,配合五轴样品定位还能实现测试区域原位的EBSD 量测以获得结晶方向等信息。利用推转拉(PTP)器件能够针对纳米线、薄膜等样品就地测量拉伸应力-应变行为。...
模块化设计支持全套测试技术,包括 800°C 加热,刮擦测试,5轴样品定位,电气特性,动态疲劳测试等。除了直接利用压痕功能压缩微柱,颗粒和其他小尺寸结构以测量应力应变行为和屈服特性并同时实时观察变形机制,配合五轴样品定位还能实现测试区域原位的EBSD 量测以获得结晶方向等信息。利用推转拉(PTP)器件能够针对纳米线、薄膜等样品就地测量拉伸应力-应变行为。...
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