BS EN 62132-2:2011
集成电路.电磁抗扰性的测量.辐射抗扰度的测量.TEM单元和宽带TEM单元方法
Integrated circuits. Measurement of electromagnetic immunity. Measurement of radiated immunity. TEM cell and wideband TEM cell method
- 标准号
- BS EN 62132-2:2011
- 发布
- 2011年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS EN 62132-2:2011
- 适用范围
- 本国际标准规定了测量集成电路（IC）对射频（RF）辐射电磁干扰的抗扰度的方法。 该方法的频率范围为 150 kHz 至 1 GHz，或受 TEM 室特性的限制。
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