DIN EN 13925-3:2005
无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第3部分:仪器
Non-destructive testing - X-ray diffraction from polycrystalline and amorphous materials - Part 3: Instruments; German version EN 13925-3:2005
- 标准号
- DIN EN 13925-3:2005
- 发布
- 2005年
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 替代标准
- DIN EN 13925-3:2005-07
- 当前最新
- DIN EN 13925-3:2005-07
- 被代替标准
- DIN EN 13925-3:2002
- 适用范围
- 该标准定义了用于多晶和非晶材料 X 射线衍射的设备的特性，并给出了衍射仪鉴定的质量指标。
DIN EN 13925-3:2005相似标准
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《多晶X射线衍射技术与应用》-10（第3章 多晶X射线衍射仪）
X射线源（常是X射线发生器）——提供测量时所需的X射线（一般为单一的已知波长的X射线），强度可调节控制。2. 样品及样品位置取向的调整机构系统（样品台），样品须是单晶、多晶（粉晶）或微晶的固体物质。3. 衍射线方向和强度的测量系统（收集记录Ｘ射线的方法已在第一章中有所介绍）。4. 衍射图的处理分析系统。现代的Ｘ射线衍射仪器一般都带有一套衍射图处理分析系统，极大地减少了繁琐的人工数据处理的工作量。...
X射线衍射的应用
X射线衍射仪 基本构成 （1） 高稳定度X射线源 提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。 （2） 样品及样品位置取向的调整机构系统 样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。 （3） 射线检测器 检测衍射强度或同时检测衍射方向, 通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。 ...
X射线衍射仪的应用介绍
X射线衍射仪是对物质和材料的组成和原子级结构进行研究和鉴定的基本手段。X射线衍射仪对单晶、多晶和非晶样品进行结构参数分析，如物相鉴定和定量分析、室温至高温段的物相分析、晶胞参数测定（晶体结构分析）、多晶X-射线衍射的指标化以及晶粒尺寸和结晶度的测定等。可精确地测定物质的晶体结构，如：物相定性与定量分析，衍射谱的指标化及点阵参数。 ...