BS ISO 14701-2011
表面化学分析.X射线光电子能谱学.二氧化硅厚度测量

Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness

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标准号

BS ISO 14701-2011

发布日期

2011年08月31日

实施日期

2011年08月31日

废止日期

无

中国标准分类号

G04

国际标准分类号

71.040.40

发布单位

GB-BSI

代替标准

BS ISO 14701-2018