基本原理X射线管产生初级X射线照射到样片表面,产生的特征X射线经晶体分光后,检测器在选择的特征波长相对应的2θ角处测量X射线荧光强度,根据校准曲线和测量的X射线荧光强度,计算出样品中各元素的质量百分数。验证仪器XRF-1800为端窗型Rh靶管,功率可高达4KW,既可进行简单而快速的定性-定量分析,又可进行精确的元素定量分析。...
国际标准化组织,关于质谱中相对强度的标准 ISO 17862-2013 表面化学分析.次级离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析器强度标的线性 ISO 23830-2008 表面化学分析.次级离子质谱测定法.静态次级离子质谱测定法中相对强度数值范围的重复性和稳定性 法国标准化协会,关于质谱中相对强度的标准 NF X21-064-2009 表面化学分析.次级离子质谱测定法.静态次级离子质谱测定法中相对强度数值范围的重复性和稳定性...
可以测量光电子的能量,以光电子的动能为横坐标,相对强度(脉冲/s)为纵坐标可做出光电子能谱图。从而获得试样有关信息。X射线光电子能谱因对化学分析最有用,因此被称为化学分析用电子能谱(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)。 1,元素的定性分析。可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H、He以外的所有元素。 2,元素的定量分析。...
玩具材料中可迁移元素锑、砷、钡、镉、铬、铅、汞、硒的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法GB/T 30564-2014无损检测 无损检测人员培训机构指南GB/T 30565-2014无损检测 涡流检测 总则GB/T 30701-2014表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定GB/T 30702-2014表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱...
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