SAE J1752-2-2011
采用从10 MHz到3 GHz的集成电路表面扫描方法(回路探测方法)的辐射排放测量

Measurement of Radiated Emissions from Integrated Circuits Surface Scan Method (Loop Probe Method) 10 MHz to 3 GHz

被代替

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标准号

SAE J1752-2-2011

发布

2011年

发布单位

美国机动车工程师协会

替代标准

SAE J1752-2-2016

当前最新

SAE J1752-2-2016

 

 

引用标准

SAE J1752/1-2006

适用范围

本 SAE 推荐实践定义了一种评估集成电路 (IC) 表面电磁场的近场电场或磁场分量的方法。该技术能够提供 IC 内部 RF 源的详细模式。图案的分辨率由所用探头的特性和机械探头定位器的精度决定。该方法可通过现有的探头技术在 10 MHz 至 3 GHz 频率范围内使用。探针根据编程模式在平行或垂直于 IC 表面的平面上进行机械扫描，数据经过计算机处理，以提供扫描频率下场强的颜色增强表示。此过程适用于安装在扫描探针可触及的任何电路板上的 IC 的测量。为了进行比较，应使用标准化测试板。该诊断程序旨在用于 IC 架构分析，包括功能平面图和配电。

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