IEEE 1581-2011
静态组件互连测试协议和体系结构（IEEE 计算机协会）

Static Component Interconnection Test Protocol and Architecture (IEEE Computer Society)

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标准号

IEEE 1581-2011

发布

2011年

发布单位

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.

当前最新

IEEE 1581-2011

 

 

适用范围

该标准定义了一种低成本方法，用于测试分立复杂存储器集成电路 (IC) 的互连，其中没有用于测试的附加引脚，并且实施边界扫描 (IEEE Std 1149.1?)1 也不可行。该标准描述了兼容IC中测试逻辑和测试模式访问/退出方法的实现规则。该标准仅限于实现的行为描述，不包括测试逻辑或测试模式控制电路的技术设计。目的 目前对于存储器件的测试技术还没有定义独立的标准。每个供应商都可以自由地在其 IC 中实现测试硬件功能以支持连接测试。如果没有独立的标准@可测试性就会降低@并且测试覆盖率可能不完整？降低测试技术对其他人的用处。该标准将通过指定存储器 IC 中包含的测试逻辑和测试模式进入/退出方法的实施规则来改进分立存储器设备的互连测试，作为实施该标准的 IC 供应商和支持该标准的测试设备制造商的指导。该标准针对的是出于任何原因未提供可测试性设计 (DFT) 的 IC@主要针对内存设备，但也允许在其他设备中实施@同时支持板级的最高故障覆盖率和引脚级诊断此类设备上的连接故障。 1 有关规范性引用文件的信息可在第 2 条中找到。

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