BS DD ISO/TS 10798:2011
毫微技术.利用扫描电子显微镜和能量色散X射线光谱法分析得出单层碳纳米管的表示特征

Nanotechnologies. Characterization of single-wall carbon nanotubes using scanning electron microscopy and energy dispersive X-ray spectrometry analysis


 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 BS DD ISO/TS 10798:2011 前三页,或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准,
点击右侧 “购买” 按钮开始采购(由第三方提供)。

点击下载后,生成下载文件时间比较长,请耐心等待......

 

标准号
BS DD ISO/TS 10798:2011
发布
2011年
发布单位
英国标准学会
当前最新
BS DD ISO/TS 10798:2011
 
 

BS DD ISO/TS 10798:2011相似标准


推荐

X射线荧光光谱仪对硫化铜矿样品分析应用

X射线荧光光谱分析(Micro-XRF)技术作为一种基于普通X射线荧光无损分析技术,是X射线光谱学领域重要分支,可实现微米级微小区域内样品中多元素定性或定量分析,成为获取样品区结构元素空间线扫描、面扫描分布及时序性信息有力工具。使用了台式能量色散X射线荧光仪,对氧化物组合标样矿物光片点扫描,对31个矿物光片涂有防晒霜指纹样品进行面扫描,5个金属薄膜片点扫描。...

硫化矿样品X射线荧光光谱分析

X射线荧光光谱分析(Micro-XRF)技术作为一种基于普通X射线荧光无损分析技术,是X射线光谱学领域重要分支,可实现微米级微小区域内样品中多元素定性或定量分析,成为获取样品区结构元素空间线扫描、面扫描分布及时序性信息有力工具。使用了台式能量色散X射线荧光仪,对氧化物组合标样矿物光片点扫描,对31个矿物光片涂有防晒霜指纹样品进行面扫描,5个金属薄膜片点扫描。...

电子探针仪与扫描电镜有何异同

图11 扫描式电子探针示意图中示出是波长色散谱仪(波谱仪)﹐利用分析晶体将不同波长X射线分开(图13b 因瓦合金夹杂物能量色散谱a波长色散谱b比较 b)﹐也可以用硅渗锂探测器与多道分析器把能量不同X射线光子分别记录下来﹐给出X射线能谱曲线(图13 a 因瓦合金夹杂物能量色散谱a波长色散谱b比较 a)。...

扫描电子显微镜(SEM)结合能量色散X射线光谱法(EDS/EDX)

达妮埃拉·平娜(Daniela  Pinna)PART.1分 类扫描电子显微镜 ( SEM ) 结合能量色散X射线光谱法 (energy dispersive X-ray spectroscopy, EDS/EDX) 为侵入式检测技术,需做取样才能进行观察与分析。但尺寸较小待检物也可置于样品室内进行分析,这种情况下则可视为非侵入式检测。样品或待检物必须可耐受中度真空条件。...





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号