ISO/TR 14187:2011
表面化学分析.纳米结构材料的特性

Surface chemical analysis - Characterization of nanostructured materials


ISO/TR 14187:2011 中，可能用到以下仪器

 

堀场HORIBAXelPleX 全自动表面等离子体共振成像仪 Rapid Coupling of Surface Plasmon Resonance (SPR and SPRi) and ProteinChip based Mass Spectrometry for the Identification of Proteins in Nucleoprotein Interactions

堀场HORIBAXelPleX 全自动表面等离子体共振成像仪 Rapid Coupling of Surface Plasmon Resonance (SPR and SPRi) and ProteinChip based Mass Spectrometry for the Identification of Proteins in Nucleoprotein Interactions

HORIBA科学仪器事业部

 

堀场HORIBA 分子互作XelPleX Antibody / Protein Interaction on a Biochip Functionalized with a Cystamine / Glutaraldehyde Layer, Biochip Robustness

堀场HORIBA 分子互作XelPleX Antibody / Protein Interaction on a Biochip Functionalized with a Cystamine / Glutaraldehyde Layer, Biochip Robustness

HORIBA科学仪器事业部

 

比表面贝克曼库尔特 静态分子量与纳米粒度同步分析仪 应用于高分子材料

比表面贝克曼库尔特 静态分子量与纳米粒度同步分析仪 应用于高分子材料

贝克曼库尔特商贸（中国）有限公司

 

ISO/TR 14187:2011
标准号
ISO/TR 14187:2011
发布
2011年
发布单位
国际标准化组织
替代标准
ISO/TR 14187:2020
当前最新
ISO/TR 14187:2020
 
 

ISO/TR 14187:2011相似标准

ISO/TR 14187:2020 表面化学分析 - 纳米结构材料的表征 PD ISO/TR 14187:2020 表面化学分析 纳米结构材料的表征 GSO ISO/TR 14187:2013 表面化学分析 纳米结构材料的表征 OS GSO ISO/TR 14187:2013 表面化学分析 纳米结构材料的表征 BS PD ISO/TR 14187:2020 表面化学分析 纳米结构材料的表征

ISO/TR 14187:2011 中可能用到的仪器设备

孔径分析仪/静态比表面

谁引用了ISO/TR 14187:2011 更多引用

BS ISO 20579-4:2018 表面化学分析 样品处理、制备和安装指南 在表面分析之前报告与纳米物体的历史、制备、处理和安装相关的信息


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