ASTM E1216-11
微粒污染物胶带提取法采样的标准操作规程

Standard Practice for Sampling for Particulate Contamination by Tape Lift

被代替

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标准号

ASTM E1216-11

发布

2011年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM E1216-11(2016)

当前最新

ASTM E1216-21

 

 

适用范围

胶带提升提供了一种快速而简单的技术，用于从表面去除颗粒并确定其数量和尺寸分布。通过使用统计确定的样本大小和位置，可以对大面积的表面清洁度水平进行估计。用户应定义抽样计划。采样计划应考虑表面几何形状和表面方向对气流、重力、障碍物和硬件历史的重要性。这些因素影响颗粒沉降和颗粒在表面上的截留。可以维护接头、凹陷区域、紧固件的几何形状以及颗粒计数数据与区域的对应关系。胶带的选择以及验证其对硬件清洁度的影响非常重要。胶带粘合剂应具有足够的内聚力，以避免粘合剂转移到测试表面。在硬件上使用胶带之前，应通过实验室测试评估粘合剂转移的影响。由于存在粘合剂转移的可能性，因此可能需要进行清洁以去除任何粘合剂。此外，胶带应具有低释气特性，并且至少应满足按测试方法 E595 测量的总质量损失 (TML) 小于 1.0% 和收集的挥发性可冷凝材料 (CVCM) 小于 0.1% 的要求。在决定应该通过这种做法测试哪些表面时应小心谨慎。胶带可以去除轻微粘附的油漆和涂层。在确认表面涂层不会损坏之前，不应测试光学表面。粗糙的表面光洁度导致去除效率低。经过测试，表面光洁度达到约 3.20 米（125 英寸），结果令人满意。这种做法仅在室温下的表面上进行了测试。在室温以外的表面上使用测试之前，必须评估温度影响。只有具有显微颗粒计数技术经验的人员才能对颗粒进行计数和大小测定。
1.1 本实践涵盖了对表面进行采样以确定是否存在 5 米及以上颗粒污染的程序。该做法包括将压敏胶带粘贴到表面，然后通过去除胶带去除颗粒污染物。然后将带有粘附颗粒的胶带安装在计数载玻片上。颗粒的计数和测量是通过标准技术完成的。
1.2 本实践描述了进行表面采样以进行颗粒计数和尺寸测定所需的材料和设备。
1.3 接受或拒绝零件是否符合表面清洁度等级要求的标准应由用户确定，并且不包括在本实践中。
1.4 此做法适用于未因粘贴胶带而损坏的表面。不建议在之前未经测试或损坏敏感性未知的任何材料的任何表面上使用此做法。一般来说，金属、金属镀层和氧化物涂层不会受到损坏。在实施此测试之前，应对涂漆、气相沉积和光学涂层的应用进行评估。
1.5 本实践提供了三种评估胶带剥离测试的方法，如下：

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