EN 61967-8-2011
集成电路.电磁辐射的测量.第8部分:辐射发射的测量.IC带状线法

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method

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EN 61967-8-2011 发布历史

EN 61967-8-2011由欧洲电工标准化委员会 IX-CENELEC 发布于 2011。

EN 61967-8-2011的历代版本如下：

2011年 EN 61967-8-2011 集成电路.电磁辐射的测量.第8部分:辐射发射的测量.IC带状线法

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标准号: EN 61967-8-2011
发布日期: 2011年
实施日期
废止日期: 无
发布单位: IX-CENELEC

EN 61967-8-2011系列标准

EN 61967-1-2002 集成电路.150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量.第1部分:一般条件和定义 IEC 61967-1:2002 EN 61967-2-2005 集成电路.150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量.第2部分:辐射释放测量.TEM辐射室和宽频带TEM辐射室法 IEC 61967-2:2005 EN 61967-4-2002 集成电路.150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量.第4部分:传导辐射的测量.1 ohm/150 ohm直接耦合法;包含修改件A1-2/2006;勘误表-12/2006 EN 61967-5-2003 集成电路.150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量.第5部分:传导辐射的测量.工作台法拉第筒法 IEC 61967-5-2003 EN 61967-6-2002 集成电路.150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导辐射的测量.磁性探测法;包含修改件A1:2008年5月

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