日前,由中国科学技术大学工程科学学院黄文浩教授主持制订的国际标准“扫描探针显微镜漂移测量方法(ISO11039:2012)”已由国际标准化组织正式发布。 自20世纪80年代扫描探针显微镜(Scanning-probe microscopy,SPM)发明以来,由于其具有原子量级的分辨能力,极大地促进了纳米科学技术的发展,并已逐步形成了一种高新技术产业。...
中国科技大学黄文浩教授针对《ISO 11039: 2012 Surface chemical analysis — Scanning-probe microscopy — Measurement of drift rate》,展开《扫描探针显微镜漂移率的测量》报告,提出了3种测量漂移的校正方法。...
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