ISO 16526-3:2011
无损检测.X射线管电压的测量与评价.第3部分:频谱方法
Non-destructive testing - Measurement and evaluation of the X-ray tube voltage - Part 3: Spectrometric method
- 标准号
- ISO 16526-3:2011
- 发布
- 2011年
- 中文版
- GB/T 41105.3-2021 (等同采用的中文版本)
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 当前最新
- ISO 16526-3:2011
ISO 16526-3:2011相似标准
推荐
X荧光光谱仪工作原理
只有当一次X射线的波长稍短于受激元素吸收限lmin时，才能有效的激发出X射线荧光。笥?SPAN>lmin的一次X射线其能量不足以使受激元素激发。 X射线管的靶材和管工作电压决定了能有效激发受激元素的那部分一次X射线的强度。管工作电压升高，短波长一次X射线比例增加，故产生的荧光X射线的强度也增强。...
X荧光光谱仪的工作原理（一）
只有当一次X射线的波长稍短于受激元素吸收限lmin时，才能有效的激发出X射线荧光。大于lmin的一次X射线其能量不足以使受激元素激发。 X射线管的靶材和管工作电压决定了能有效激发受激元素的那部分一次X射线的强度。管工作电压升高，短波长一次X射线比例增加，故产生的荧光X射线的强度也增强。...
XRF检测原理
探测系统测量这些放射出来的二次射线的能量及数量。然后，仪器软件将控测系统所收集的信息转换成样品中的各种元素的种类及含量。利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围为11号元素（钠Na）到92号元素（铀U）。 XRF的筛选 X射线荧光光谱仪是公认的RoHS筛选检测首选仪器，由于其检测速度快、分辨率高、实施无损检测，所以被广泛采用。...
245项推荐性国标获批发布，多项与仪器分析检测方法相关
1MV以下X射线设备的辐射防护规则 第3部分：450kV以下X射线设备辐射防护的计算公式和图表 2022-11-01 GB/Z 41476.4-2022 无损检测仪器 1MV以下X射线设备的辐射防护规则 第4部分：控制区域的计算 2022-11-01...