JEDEC JESD51-51-2012
用于测量带暴露冷却的发光二极管的实际热阻和阻抗的电气测试方法的实施

Implementation of the Electrical Test Method for the Measurement of Real Thermal Resistance and Impedance of Light-Emitting Diodes with Exposed Cooling


JEDEC JESD51-51-2012 发布历史

JEDEC JESD51-51-2012由(美国)固态技术协会,隶属EIA US-JEDEC 发布于 2012-04-01。

 

标准号
JEDEC JESD51-51-2012
发布
2012年
发布单位
(美国)固态技术协会,隶属EIA
 
 

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