YD/T 2342-2011
通信用光电子器件可靠性试验方法
Reliability test method for optoelectronic devices used in telecommunications
说明：
- 此图仅显示与当前标准最近的5级引用；
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- 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。
- 标准号
- YD/T 2342-2011
- 发布日期
- 2011年12月20日
- 实施日期
- 2011年12月20日
- 废止日期
- 无
- 中国标准分类号
- M33
- 国际标准分类号
- 33.180.20
- 发布单位
- CN-YD
- 引用标准
- GB/T 19001-2008 GB/T 21194-2007
- 适用范围
- 本标准规定了通信用光电子器件可靠性试验方法的一般要求和详细要求，包括：试验目的、设备、条件、程序、检验及失效判据。 本标准适用于通信用光电子器件，包括但不限于激光二极管、发光二极管、光电二极管、雪崩光电二极管及由它们组成的组件或模块，简称“光电子器件”。其他领域的光电子器件也可参照使用。