JB/T 8371-2012
容栅线位移测量系统.数显组件
Capacitance linear displacement measuring system.Display module
JB/T 8371-2012 发布历史
本标准规定了容栅线位移测量系统数显组件的术语和定义、结构型式与基本参数、要求、检验方法、检验规则、标志与包装等。 本标准适用于分辨力为0.001mm、0.005mm、0.01mm,显示范围为-999 999～+999 999的容栅线位移测量系统数显组件（以下简称“数显组件”）。
JB/T 8371-2012由行业标准-机械 CN-JB 发布于 2012-05-24，并于 2012-11-01 实施。
JB/T 8371-2012 在中国标准分类中归属于: J42 量具与量仪，在国际标准分类中归属于: 17.040.30 测量仪器仪表。
JB/T 8371-2012 发布之时，引用了标准
- GB/T 191-2008 包装储运图示标志
- GB/T 2423.3-2006 电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法试验Cab:恒定湿热试验
- GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验 第2部分;试验方法 试验Ea和导则;冲击
- GB/T 2423.10-2008 电工电子产品环境试验.第2部分: 试验方法.试验Fc: 振动(正弦)
- GB/T 2423.22-2002 电工电子产品环境试验 第2部分;试验方法 试验N: 温度变化
- GB 4208-2008 外壳防护等级(IP代码)
- GB/T 4879-1999 防锈包装
- GB/T 5048-1999 防潮包装
- GB/T 6388-1986 运输包装收发货标志
- GB/T 9969-2008 工业产品使用说明书.总则
- GB/T 13384-2008 机电产品包装通用技术条件
- GB/T 14436-1993 工业产品保证文件 总则
- GB/T 17163-2008 几何量测量器具术语.基本术语
- GB/T 17164-2008 几何量测量器具术语.产品术语
- GB/T 17626.2-2006 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验
JB/T 8371-2012的历代版本如下：
- 1996年04月22日 JB/T 8371-1996 容栅线位移测量系统数显单元0.01mm
- 2012年05月24日 JB/T 8371-2012 容栅线位移测量系统.数显组件
JB/T 8371-2012 容栅线位移测量系统.数显组件 由 JB/T 8371-1996 变更而来。
- 标准号
- JB/T 8371-2012
- 发布日期
- 2012年05月24日
- 实施日期
- 2012年11月01日
- 废止日期
- 无
- 中国标准分类号
- J42
- 国际标准分类号
- 17.040.30
- 发布单位
- CN-JB
- 引用标准
- GB/T 191-2008 GB/T 2423.3-2006 GB/T 2423.5-1995 GB/T 2423.10-2008 GB/T 2423.22-2002 GB 4208-2008 GB/T 4879-1999 GB/T 5048-1999 GB/T 6388-1986 GB/T 9969-2008 GB/T 13384-2008 GB/T 14436-1993 GB/T 17163-2008 GB/T 17164-2008 GB/T 17626.2-2006 GB/T 17626.3-200
- 被代替标准
- JB/T 8371-1996
- 适用范围
- 本标准规定了容栅线位移测量系统数显组件的术语和定义、结构型式与基本参数、要求、检验方法、检验规则、标志与包装等。 本标准适用于分辨力为0.001mm、0.005mm、0.01mm,显示范围为-999 999～+999 999的容栅线位移测量系统数显组件（以下简称“数显组件”）。