BS EN 14784-1:2005
无损检验.用存储荧光成像板的工业计算辐射摄影术.系统分类

Non-destructive testing - Industrial computed radiography with storage phosphor imaging plates - Classification of systems

标准号

BS EN 14784-1:2005

发布

2005年

发布单位

英国标准学会

当前最新

BS EN 14784-1:2005

 

 

被代替标准

03/115226 DC-2003

适用范围

该欧洲标准规定了计算机放射线摄影系统的基本参数，旨在经济地获得令人满意且可重复的结果。 这些技术基于基础理论和测试测量。 本文件规定了计算机放射成像（CR）系统的性能以及系统扫描仪和存储荧光成像板（IP）的相应参数的测量。 它结合用于工业射线照相的指定金属屏幕描述了这些系统的分类。 其目的是确保图像质量（就扫描仪 IP 系统的影响而言）符合本文件第 2 部分的要求。 该文件涉及 EN 584-1 和 ISO 11699-1 中定义的胶片射线照相要求。 该欧洲标准定义了不同级别的系统测试。 描述了更复杂的测试，可以确定精确的系统参数。 它们可用于对不同供应商的系统进行分类，并使它们可供用户进行比较。 这些测试被指定为制造商测试。 其中一些需要特殊工具，而用户实验室通常没有这些工具。 因此，还描述了更简单的用户测试，旨在快速测试 CR 系统的质量和长期稳定性。 影响 CR 图像质量的因素有很多，包括几何不清晰度、信噪比、散射和对比敏感度。 还有几个其他因素（例如扫描参数）会影响使用光学扫描仪准确读取暴露的 IP 上的图像。 质量因素可以通过本文件中描述的制造商测试来最准确地确定。 描述了推荐用于实际用户测试的单独测试目标，以保证质量。 这些测试可以单独进行，也可以使用 CR Phantom（附件 B）进行。 该 CR Phantom 包含许多基本质量评估方法以及与 CR 系统正确运行相关的方法，包括扫描仪，用于读取曝光的印版并正确擦除 IP 以供将来使用每个印版。 本文档中的 CR 系统类别并不涉及任何特定制造商的成像板。 CR 系统类别由特定成像板的使用以及曝光条件（尤其是总曝光）、扫描仪类型和扫描参数决定。

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