ISO 18452:2005
精密陶瓷(高级陶瓷、高级工业陶瓷).用接触式探针轮廓测定仪测定陶瓷覆层厚度

Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) - Determination of thickness of ceramic films by contact-probe profilometer


ISO 18452:2005 发布历史

ISO 18452:2005由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 2005-11。

ISO 18452:2005 在中国标准分类中归属于: Q32 特种陶瓷，在国际标准分类中归属于: 81.060.30 高级陶瓷。

ISO 18452:2005 发布之时，引用了标准

  • ISO 3274 产品几何量技术规范(GPS) 表面结构:轮廓法 接触(触针)式仪器的标称特性 技术勘误1

ISO 18452:2005的历代版本如下：

  • 2005年 ISO 18452:2005 精密陶瓷(高级陶瓷、高级工业陶瓷).用接触式探针轮廓测定仪测定陶瓷覆层厚度

 

本国际标准规定了用接触式探针轮廓仪测定精细陶瓷膜和陶瓷涂层膜厚的方法。 该方法适用于10 nm至10 000 nm范围内的薄膜厚度。 注：该方法要求基材的涂层部分和未涂层部分之间有明显且清晰的边界。

ISO 18452:2005
标准号
ISO 18452:2005
发布
2005年
发布单位
国际标准化组织
当前最新
ISO 18452:2005
 
 
引用标准
ISO 3274

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