IEC 62132-8:2012
集成电路.电磁抗扰度的测量.第8部分:辐射抗扰度测量.集成电路(IC)电介质条状线法
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 8: Measurement of radiated immunity - IC Stripline method
- 标准号
- IEC 62132-8:2012
- 发布
- 2012年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 62132-8:2012
- 被代替标准
- IEC 47A/882/FDIS:2012
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