DS/EN 60444-8-2003

Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units


说明:

  • 此图仅显示与当前标准最近的5级引用;
  • 鼠标放置在图上可以看到标题编号;
  • 此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩小;
  • 表示标准的节点,可以拖动;
  • 绿色表示标准:DS/EN 60444-8-2003 , 绿色、红色表示本平台存在此标准,您可以下载或者购买,灰色表示平台不存在此标准;
  • 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。

 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 DS/EN 60444-8-2003 前三页,或者稍后再访问。

点击下载后,生成下载文件时间比较长,请耐心等待......

 



标准号
DS/EN 60444-8-2003
发布日期
2003年12月11日
实施日期
2003年11月07日
废止日期
国际标准分类号
31.140
发布单位
DK-DS
适用范围
This part of 60444 explains the test fixture that allows the accurate measurement of resonance frequency, resonance resistance, and equivalent electrical circuit parameters of a leadless surface mounted quartz crystal units using zero phase technique as specified in IEC 60444-4 and IEC 60444-5. An equivalent circuit constant and the application frequency range obtained by using the test fixture are then shown. In addition, this is applied to the enclosure shown in IEC 61240 as a crystal unit without lead wires. An equivalent circuit of the test fixture and an electric values are based on IEC 60444-1 and IEC 60444-4. The range of load capacitance is 10 pF or

DS/EN 60444-8-2003系列标准





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号