DS/EN 60749-34:2011
半导体设备 机械和气候测试方法 第34部分：功率循环

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 DS/EN 60749-34:2011 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

标准号

DS/EN 60749-34:2011

发布

2011年

发布单位

丹麦标准化协会

当前最新

DS/EN 60749-34:2011

 

 

被代替标准

DS/EN 60749-34-2004

适用范围

IEC 60749-34:2010 描述了一种测试方法，用于确定半导体器件对由于内部半导体芯片和内部连接器的功率耗散循环而产生的热应力和机械应力的抵抗力。当周期性施加和消除正向传导的低压工作偏置（负载电流）时，会发生这种情况，导致温度快速变化。功率循环测试旨在模拟电力电子器件中的典型应用，并且是对高温工作寿命的补充（参见 IEC 60749-23）。暴露于该测试可能不会引起与暴露于空气对空气温度循环相同的故障机制

DS/EN 60749-34:2011相似标准

推荐