DS/EN 60749-10/Corr.1:2004
半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分：机械冲击

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock

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标准号

DS/EN 60749-10/Corr.1:2004

发布

2004年

发布单位

丹麦标准化协会

当前最新

DS/EN 60749-10/Corr.1:2004

 

 

适用范围

IEC 60749 的这一部分描述了一种冲击测试，旨在确定电子设备中使用的零部件的适用性，这些电子设备可能会因粗暴搬运、运输或操作而产生的突然施加的力或突然的运动变化而遭受中等程度的严重冲击。现场操作。这种类型的冲击可能会干扰空腔型封装的正常运行。一般来说，该机械冲击测试符合 IEC 60068-2-27，但由于半导体的特殊要求，该标准的条款适用。

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