DS/EN 61829:1999
晶体硅光伏（PV）阵列 IV 特性的现场测量

Crystalline silicon photovoltaic (PV) array - On-site measurement of I-V characteristics

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标准号: DS/EN 61829:1999
发布: 1999年
发布单位: 丹麦标准化协会
当前最新: DS/EN 61829:1999

适用范围: 该国际标准描述了现场测量晶体硅光伏（PV）阵列特性以及将这些数据外推到标准测试条件（STC）或其他选定的温度和辐照度值的程序。实际现场条件下光伏阵列 IV 特性的测量及其对验收测试条件 (ATC) 的外推可以提供（参见附件 A 和 QC 001002）： - 额定功率数据 - 相对于设计规范的已安装阵列功率性能验证 -检测现场模块特性与实验室或工厂测量之间可能存在的差异 - detec

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