DS/EN 61967-6/A1-2008

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method

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标准号

DS/EN 61967-6/A1-2008

发布日期

2008年07月18日

实施日期

2008年07月18日

废止日期

无

国际标准分类号

31.200

发布单位

DK-DS

适用范围

Specifies a method for evaluating RF currents on the pins of an integrated circuit (IC) by means of non-contact current measurement using a miniature magnetic probe. This method is capable of measuring the RF currents generated by the IC over a frequency range of 0,15 MHz to 1 000 MHz.