ASTM E2382-04(2012)由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2004。
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1.1 所有显微镜都会受到伪影的影响。本文件的目的是描述扫描隧道显微镜 (STM) 和原子力显微镜 (AFM) 中常见的与探针运动以及针尖和表面相互作用的几何考虑有关的伪影,提供示例的文献参考,其中可能的话,对文物的来源提供解释。由于扫描探针显微镜领域是一个新兴领域,因此本文件并不意味着全面,而是为显微镜工作者提供指导,帮助他们了解可能遇到的陷阱。识别伪影的能力应有助于可靠地评估仪器操作和报告数据。
1.2 此处将定义一组有限的术语。与 STM 和 AFM 仪器的描述、操作和校准相关的术语的完整描述超出了本文档的范围。
1.3 以 SI 单位表示的值应被视为标准值。本标准不包含其他计量单位。
根据所利用的探针与样品之间相互作用物理场的不同,扫描探针显微镜被分为不同系列的显微镜。其中扫描隧道显微镜和原子力显微镜是比较常用的两类扫描探针显微镜。扫描隧道显微镜是通过检测探针与被测样品之间的隧道电流的大小来检测样品表面结构。原子力显微镜是通过光电位移传感器检测针尖一样品间的相互作用力所引起的微悬臂形变来检测样品表面。 ...
仪器结构在原子力显微镜(Atomic Force Microscopy,AFM)的系统中,可分成三个部分:力检测部分、位置检测部分、反馈系统。力检测部分在原子力显微镜(AFM)的系统中,所要检测的力是原子与原子之间的范德华力。所以在本系统中是使用微小悬臂(cantilever)来检测原子之间力的变化量。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。...
在科研中常见的几种科研型显微镜主要有扫描探针显微镜,扫描隧道显微镜和原子力显微镜几种,下面对这几种显微镜逐一做以介绍:扫描探针显微镜 扫描探针显微镜(ScanningProbeMicroscope,SPM)是扫描隧道显微镜及在扫描隧道显微镜的基础上发展起来的各种新型探针显微镜(原子力显微镜AFM,激光力显微镜LFM,磁力显微镜MFM等等)的统称,是国际上近年发展起来的表面分析仪器...
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