ISO 11505:2012
表面化学分析.通过辉光放电光发射光谱法来定量成分深度剖面的通用规程
Surface chemical analysis - General procedures for quantitative compositional depth profiling by glow discharge optical emission spectrometry
- 标准号
- ISO 11505:2012
- 发布
- 2012年
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 当前最新
- ISO 11505:2012
- 适用范围
- 本国际标准描述了测定表面层薄膜的厚度、单位面积质量和化学成分的辉光放电发射光谱（GD-OES）方法。 它仅限于 GD-OES 定量一般程序的描述，并不直接适用于具有各种厚度和待测定元素的单个材料的定量。 注：测试材料的任何单独标准都必须指定表面层的厚度范围以及分析物元素，并包括用于验证方法的实验室间测试的结果。
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