ASTM E112-12
测定平均粒度的标准试验方法

Standard Test Methods for Determining Average Grain Size

被代替

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标准号

ASTM E112-12

发布

2012年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM E112-13

当前最新

ASTM E112-13(2021)

 

 

适用范围

1.1“比较程序”比较程序不需要计算晶粒、截距或交点，但顾名思义，涉及晶粒结构与晶粒结构的比较。一系列分级图像，可以是挂图、透明塑料覆盖层或目镜十字线的形式。比较晶粒尺寸评级声称晶粒尺寸比实际尺寸稍粗（低 1/2 至 1 G 数），这似乎存在普遍偏差（参见 X1.3.5）。比较图的重复性和再现性评级一般为±1晶粒尺寸数。
4.1.2“平面测量程序”平面测量方法涉及对已知区域内的颗粒数量进行实际计数。每单位面积的晶粒数 NA 用于确定 ASTM 晶粒尺寸数 G。该方法的精度是计数的晶粒数的函数。通过合理的努力就可以达到 ±0.25 粒度单位的精度。结果没有偏差，重复性和再现性小于 ±0.5 粒度单位。准确的计数确实需要在计数时对谷物进行标记。
4.1.3“截取程序”截取法是对每单位长度的测试线实际截取的晶粒数或与测试线的晶界相交的数量进行计数，用于计算平均直线截距长度，ℓ。 ℓ用于确定 ASTM 晶粒尺寸数 G。该方法的精度是所计数的截距或交叉点数量的函数。通过合理的努力即可获得优于 ±0.25 粒度单位的精度。结果不存在偏见；重复性和再现性小于 ±0.5 粒度单位。由于无需标记截距或交点即可进行准确计数，因此对于相同精度水平，截距法比平面法更快。
4.2 对于由等轴晶粒组成的试样，将试样与标准图进行比较的方法是最方便的，并且对于大多数商业目的来说足够准确。为了更准确地确定平均晶粒尺寸，可以使用截距法或平面法。截距程序对于由细长晶粒组成的结构特别有用。 4.3 如有争议，在所有情况下，拦截程序均应为裁判程序。

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