YB/T 4290-2012
金相检测面上最大晶粒尺寸级别(ALA晶粒度)测定方法

Determination method of the largest grain size grade (ALA grain size) on the metallographic inspection surface

YBT4290-2012, YB4290-2012


YB/T 4290-2012 中,可能用到以下仪器设备

 

尼康ECLIPSE MA100倒置金相显微镜

尼康ECLIPSE MA100倒置金相显微镜

德国赛多利斯集团

 

Leica DM4000M半自动金相显微镜

Leica DM4000M半自动金相显微镜

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

徕卡Leica DCM 3D白光共焦干涉显微镜

徕卡Leica DCM 3D白光共焦干涉显微镜

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

 德国徕卡 手动倒置金相显微镜 DM ILM

德国徕卡 手动倒置金相显微镜 DM ILM

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

徕卡金相显微镜

徕卡金相显微镜

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

徕卡DMI 8M金相显微镜

徕卡DMI 8M金相显微镜

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

徕卡金相显微镜

徕卡金相显微镜

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

徕卡金相显微镜

徕卡金相显微镜

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

徕卡金相显微镜

徕卡金相显微镜

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

 德国徕卡 倒置荧光显微镜 Leica DMi8-电动

德国徕卡 倒置荧光显微镜 Leica DMi8-电动

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

Leica徕卡 DM2700M 金相显微镜

Leica徕卡 DM2700M 金相显微镜

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

Leica徕卡DM 2500M正置金相显微镜

Leica徕卡DM 2500M正置金相显微镜

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

Leica MEF4金相显微镜

Leica MEF4金相显微镜

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

德国徕卡 公安自动宏观比对显微镜 FS C

德国徕卡 公安自动宏观比对显微镜 FS C

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

德国徕卡Leica DM12000 M 正置研究级金相显微镜

德国徕卡Leica DM12000 M 正置研究级金相显微镜

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

徕卡DMI 5000M智能数字式全/半自动倒置金相显微镜

徕卡DMI 5000M智能数字式全/半自动倒置金相显微镜

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

徕卡DM8000 M 8英寸半导体检查专用自动显微镜

徕卡DM8000 M 8英寸半导体检查专用自动显微镜

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

德国徕卡 工业显微镜 DM12000 M

德国徕卡 工业显微镜 DM12000 M

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

德国徕卡 智能正置金相显微镜 DM4M

德国徕卡 智能正置金相显微镜 DM4M

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

德国徕卡 电动正置金相显微镜 DM6M

德国徕卡 电动正置金相显微镜 DM6M

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

德国徕卡 手动正置金相显微镜 DM750M

德国徕卡 手动正置金相显微镜 DM750M

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

Leica全自动清洁度分析系统

Leica全自动清洁度分析系统

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

 德国徕卡 正置金相显微镜 DM12000M

德国徕卡 正置金相显微镜 DM12000M

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

徕卡DM 8000M金相显微镜

徕卡DM 8000M金相显微镜

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

徕卡 DM2500M材料分析显微镜

徕卡 DM2500M材料分析显微镜

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

徕卡 DMI3000M倒置研究级工业应用显微镜

徕卡 DMI3000M倒置研究级工业应用显微镜

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

徕卡自动化放射性材料研究显微镜

徕卡自动化放射性材料研究显微镜

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

Leica DM 2700M徕卡金相显微镜

Leica DM 2700M徕卡金相显微镜

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

德国徕卡 精研一体机 EM TXP

德国徕卡 精研一体机 EM TXP

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

材料分析显微镜 Leica DM1750 M

材料分析显微镜 Leica DM1750 M

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

Leica DMLIM倒置金相显微镜

Leica DMLIM倒置金相显微镜

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

leica DM6000M全自动正置金相

leica DM6000M全自动正置金相

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

蔡司Axio Scope A1材料研究的正置金相显微镜

蔡司Axio Scope A1材料研究的正置金相显微镜

北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司Axio Vert.A1研究级倒置式材料显微镜

蔡司Axio Vert.A1研究级倒置式材料显微镜

北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司研究级倒置材料显微镜Axio Observer 3/5/7

蔡司研究级倒置材料显微镜Axio Observer 3/5/7

北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司(ZEISS)分析级正立式材料显微镜Axio Lab.A1 MAT

蔡司(ZEISS)分析级正立式材料显微镜Axio Lab.A1 MAT

北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司(ZEISS)研究级智能数字金相显微镜Axioimager A2m

蔡司(ZEISS)研究级智能数字金相显微镜Axioimager A2m

北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司(ZEISS)全自动清洁度分析仪

蔡司(ZEISS)全自动清洁度分析仪

北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司(ZEISS)全自动油液污染度(油品)分析仪(Particle Analyzer)

蔡司(ZEISS)全自动油液污染度(油品)分析仪(Particle Analyzer)

北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司克尔磁光显微镜

蔡司克尔磁光显微镜

北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司ZEISS裂变径迹显微分析系统

蔡司ZEISS裂变径迹显微分析系统

北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司裂变径迹显微分析系统

蔡司裂变径迹显微分析系统

北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司Axio Scope A1正立式显微镜

蔡司Axio Scope A1正立式显微镜

北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司Axio Scope A1材料研究的正置金相显微镜

蔡司Axio Scope A1材料研究的正置金相显微镜

卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

蔡司Axio Vert.A1研究级倒置式材料显微镜

蔡司Axio Vert.A1研究级倒置式材料显微镜

卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

蔡司研究级倒置材料显微镜Axio Observer 3/5/7

蔡司研究级倒置材料显微镜Axio Observer 3/5/7

卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

蔡司(ZEISS)全自动清洁度分析仪

蔡司(ZEISS)全自动清洁度分析仪

卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

YB/T 4290-2012

标准号
YB/T 4290-2012
别名
YBT4290-2012
YB4290-2012
发布
2013年
发布单位
行业标准-黑色冶金
当前最新
YB/T 4290-2012
 
 
本标准规定了在金相檢測面上测定所歡察到的最大晶粒尺寸級別(ALA 晶粒度)的试验方法。 本标准僅适用于包含異常粗大晶粒的顯微組織,這種粗大晶粒因分布太稀疏而無法用 GB/T 6394一 2002 标准測量其晶粒度。

YB/T 4290-2012相似标准


推荐

金相检测国家标准汇总

   1、金属平均晶粒度  【001】金属平均晶粒度测定 … GB 6394-2002  【010】铸造铝铜合金晶粒度测定…GB 10852-89  【019】珠光体平均晶粒度测定…GB 6394-2002  【062】金属的平均晶粒度评级…ASTM E112  【074】黑白相面积及晶粒度评级…BW 2003-01  【149】彩色试样图像平均晶粒度测定…GB 6394-2002  【304】钨、...

金相学有哪些应用领域

第一组中的几个例子,钢的夹杂物含量的测定,铸铁中石墨分类,以及热喷涂涂层或烧结零件中孔隙率的评估。  测定平均晶粒尺寸测量的常用方法有截点法或面积法,微观结构组分的体积分数评估常用相分析法。使用图像分析软件,可以在单一视场检测多个相,进行量化,并以图形表示。  不仅微观而且宏观。宏观检验技术在日常质量控制以及失效分析或研究中也经常采用。...

金相学和材料显微的定量分析

例如,ASTM Standard E112为确定平均晶粒尺寸的标准操作规程;E562为采用系统人工计点法确定体积分数的标准操作规程;E768为钢中夹杂物自动评定用样品的制备与测定的标准操作规程;E930为估计金相面上观察到的zui大晶粒的标准测定方法;E1122为采用自动图像分析获得JK夹杂物级别的标准操作规程;E1181为表征双重晶粒尺寸的标准操作规程;E1245为采用自动图像分析确定钢和其它金属中夹杂物数量的标准操作规程...


YB/T 4290-2012 中可能用到的仪器设备


谁引用了YB/T 4290-2012 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号