LST EN 62132-8-2013

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity -- Part 8: Measurement of radiated immunity - IC stripline method (IEC 62132-8:2012)

LST EN 62132-8-2013 发布历史

LST EN 62132-8-2013由立陶宛标准局 LT-LST 发布于 2013-01-18，并于 2013-01-18 实施。

LST EN 62132-8-2013在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。

LST EN 62132-8-2013的历代版本如下：

• 2013年01月18日 LST EN 62132-8-2013

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标准号

LST EN 62132-8-2013

发布日期

2013年01月18日

实施日期

2013年01月18日

废止日期

无

国际标准分类号

31.200

发布单位

LT-LST