X射线计算机断层扫描技术(CT)利用X射线对材料进行成像表征。是一种将实验技术和数学分析相结合以获取材料三维微观结构的无损、可视化表征技术。相对于其他测试方法,计算机断层扫描技术无需对待测样品进行预处理,对微观结构不会产生破坏。还可以对样品进行原位连续观察。计算机断层扫描技术能表征样品的三维空间微观结构,更符合实际的微观结构。尽管计算机断层扫描技术在研究孔隙结构时,会受图像分辨率的限制。...
在不损害结构或完整性的一部分的情况下,用这些系统去获得内部尺寸的数据是不太可能的,而且也会存在扭曲测量结果的风险。 幸运的是,工业CT能够对零件进行内外尺寸测量和报告。这使得计算机断层扫描技术非常适合用于精密注塑零件或其他内部几何形状不易分析的零件和组件。 壁厚是另一种能利用工业CT来方便、快速获得分析结果的质量控制因素。...
其他测量方法如栅格断层扫描和ROI断层扫描(Region of Interest,感兴趣区域)或者更高接收板分辨率提供具有更高分辨率和更好的信噪比的零件体素。这些导致在开始-停止-方式中测量时间的增加,而使用飞行模式CT可以抵消。因此,在保证数据质量的前提下,计算机断层扫描技术在时间严格受限的环境开辟了新的应用领域. ...
为此,我们拟采购高精度断层扫描CT成像检测分析系统。...
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