IEC 62321-4:2013由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 2013-06,并于 2017-07-18 实施。
IEC 62321-4:2013 在中国标准分类中归属于: K04 基础标准和通用方法,在国际标准分类中归属于: 29.020 电气工程综合,43.040.10 电气和电子设备。
本标准有等同采用的 中文版 GB/T 39560.4-2021 电子电气产品中某些物质的测定 第4部分:CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子件中的汞
IEC 62321-4:2013 电工制品中特定物质的测定. 第4部分: 通过CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES和ICP-MS法测定聚合物, 金属和电子中的汞的最新版本是哪一版?
最新版本是 IEC 62321-4:2013/AMD1:2017 。
IEC 62321-4:2013 电工制品中特定物质的测定. 第4部分: 通过CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES和ICP-MS法测定聚合物, 金属和电子中的汞 由 IEC 62321:2008 电工制品.六种调节物质(铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯、多溴二苯醚)等级的测定 变更而来。
IEC 62321 的这一部分描述了通过 CV-AAS@ CV-AFS@ ICP-OES 和 ICP-MS 对聚合物@金属和电子产品中的汞进行测试的方法。本标准规定了电工产品中汞(Hg)含量的测定。这些材料是聚合物@金属和电子产品(例如印刷线路板@冷阴极荧光灯@汞开关)。含汞电池应按照 [1]1 中的描述进行处理。实验室间研究仅评估了这些塑料测试方法,未涵盖其他基质。本标准将样品作为待处理和测量的对象。样本是什么或如何获取样本由进行测试的实体定义。有关从成品电子产品中获取代表性样品以测试受管制物质含量的进一步指导,请参见 IEC 62321-2。需要注意的是,样本的选择和/或确定可能会影响测试结果的解释。本标准描述了四种方法@的使用,即CV-AAS(冷蒸气原子吸收光谱法)@ CV-AFS(冷蒸气原子荧光光谱法)@ICP-OES(电感耦合等离子体发射光谱法)@和ICP-MS(电感耦合等离子体质谱法)以及制备样品溶液的几种程序,专家可以从中选择最合适的分析方法。通过 CV-AAS@ CV-AFS@ ICP-OES 和 ICP-MS 进行分析,可以高精度(低百分比范围内的不确定性)和/或高灵敏度(低至 ?? /kg 级)。本标准中描述的测试程序旨在为 4 mg/kg 至 1000 mg/kg 范围内的汞浓度提供最高水平的准确度和精密度。该程序不限于更高浓度。对于直接分析@,使用热分解-金汞齐结合 CV-AAS (TD(G)-AAS) 也可用于无需样品消解的汞分析@,尽管由于样品量减少,检测限高于其他方法。
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