IEC 60444-6:2013
石英晶体元件参数的测量. 第6部分: 激励电平相关性 (DLD) 的测量

Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)


 

 

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标准号
IEC 60444-6:2013
发布
2013年
发布单位
国际电工委员会
替代标准
IEC 60444-6:2021 RLV
当前最新
IEC 60444-6:2021 RLV
 
 
被代替标准
IEC 49/1004/CDV:2012 IEC 60444-6:1995
适用范围
“IEC 60444的本部分适用于石英晶体单元的驱动电平依赖性（DLD）的测量。描述了两种测试方法（A和C）和一种参考方法（B）。“方法A”@基于符合 IEC 60444-1@ 的网络可用于 IEC 60444 本部分涵盖的完整频率范围。“参考方法 B”@ 基于符合 IEC 60444-1@ 的网络或反射方法IEC 60444-5 或 IEC 60444-8 可用于 IEC 60444 本部分所涵盖的完整频率范围。“方法 C”@ 振荡器方法 @ 适用于使用固定频率测量大量基模晶体单元。状况。”

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