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因此不应在试件超过允许的曲率半径的弯曲面上测量。5，被测物体表面粗糙度，基体金属和表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差。每次测量时，在不同位置上增加测量的次数，克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙还必须在未涂覆的粗糙相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用没有腐蚀性的溶液除去在基体金属上的覆盖层，再校对仪器零点。...
为了方便客户使用涂层测厚仪现归纳以下磁性涂层测厚仪影响测量的若干因素如下： 1、基体金属磁性变化。为了避免热处理、冷加工等因素的影响，应使用与镀件金属具有相同性质的铁基片上对仪器进行校对。 2、测量基体金属厚度，基体金属有一定临界厚度，超过厚度测量就不受基体厚度的影响。 3、边缘效应，在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不的，校对试片尽量在试片中间以减少误差。 ...
5，被测物体表面粗糙度，基体金属和表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差。每次测量时，在不同位置上增加测量的次数，克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙还必须在未涂覆的粗糙相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用没有腐蚀性的溶液除去在基体金属上的覆盖层，再校对仪器零点。6，磁场，被测物体周围磁场会干扰磁性测量，影响涂层测厚仪精度。...
因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。 e曲率 试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。 f试件的变形 测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。 g表面粗糙度 基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。...
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