GB/T 11313.1-2013
射频连接器 第1部分:总规范 一般要求和试验方法

Radio-frequency connectors.Part 1:Generic specification.General requirements and measuring methods

GBT11313.1-2013, GB11313.1-2013


GB/T 11313.1-2013 发布历史

GB/T 11313.1-2013由国家质检总局 CN-GB 发布于 2013-11-12,并于 2014-04-15 实施。

GB/T 11313.1-2013 在中国标准分类中归属于: L23 连接器,在国际标准分类中归属于: 33.120.30 射频连接器。

GB/T 11313.1-2013 射频连接器 第1部分:总规范 一般要求和试验方法的最新版本是哪一版?

最新版本是 GB/T 11313.1-2013

GB/T 11313.1-2013 采用标准及采用方式

  • IDT IEC 61169-1:1998射频连接器.第1部分:总规范.一般要求和测量方法

GB/T 11313.1-2013 发布之时,引用了标准

  • GB/T 2421.1-2008 电工电子产品环境试验.概述和指南
  • GB/T 2423.1 电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法.试验A: 低温
  • GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法.试验A: 低温
  • GB/T 2423.10 环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc: 振动(正弦)*2019-06-04 更新
  • GB/T 2423.10-1995 电工电子产品环境试验 第2部分;试验方法 试验Fc和导则: 振动(正弦)
  • GB/T 2423.101 电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法.试验:倾斜和摇摆
  • GB/T 2423.102 电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法.试验:温度(低温、高温)/低气压/振动(正弦)综合
  • GB/T 2423.11 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Fd: 宽频带随机振动--一般要求
  • GB/T 2423.12 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Fda: 宽频带随机振动--高再现性
  • GB/T 2423.13 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Fdb: 宽频带随机振动--中再现性
  • GB/T 2423.14 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Fdc: 宽频带随机振动--低再现性
  • GB/T 2423.15 电工电子产品环境试验.第2部分: 试验方法.试验Ga和导则: 稳态加速度
  • GB/T 2423.16 环境试验 第2部分:试验方法 试验J和导则:长霉*2022-07-11 更新
  • GB/T 2423.17 电工电子产品环境试验.第2部分: 试验方法.试验Ka:盐雾
  • GB/T 2423.17-2008 电工电子产品环境试验.第2部分: 试验方法.试验Ka:盐雾
  • GB/T 2423.18 环境试验 第2部分:试验方法 试验Kb:盐雾,交变(氯化钠溶液)*2021-05-21 更新
  • GB/T 2423.18-2012 环境试验.第2部分:试验方法 试验Kb:盐雾,交变(氯化钠溶液)
  • GB/T 2423.19 环境试验 第2部分:试验方法 试验Kc:接触点和连接件的二氧化硫试验
  • GB/T 2423.2 电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法.试验B:高温
  • GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法.试验B:高温
  • GB/T 2423.20 环境试验 第2部分:试验方法 试验Kd:接触点和连接件的硫化氢试验*2014-09-30 更新
  • GB/T 2423.21 电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法.试验M:低气压
  • GB/T 2423.21-2008 电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法.试验M:低气压
  • GB/T 2423.22 环境试验.第2部分:试验方法.试验N:温度变化
  • GB/T 2423.22-2002 电工电子产品环境试验 第2部分;试验方法 试验N: 温度变化
  • GB/T 2423.23 环境试验 第2部分:试验方法 试验Q:密封
  • GB/T 2423.24 环境试验 第2部分:试验方法 试验S:模拟地面上的太阳辐射及太阳辐射试验和气候老化试验导则*2022-07-11 更新
  • GB/T 2423.25 电工电子产品 环境试验.第2部分:试验方法.试验Z/AM:低温/低气压综合试验
  • GB/T 2423.26 电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法.试验Z/BM:高温/低气压综合试验
  • GB/T 2423.27 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验*2020-06-02 更新
  • GB/T 2423.28 电工电子产品环境试验 第2部分;试验方法 试验T:锡焊
  • GB/T 2423.28-2005 电工电子产品环境试验 第2部分;试验方法 试验T:锡焊
  • GB/T 2423.29 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验U:引出端及整体安装件强度
  • GB/T 2423.3 环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验*2016-12-13 更新
  • GB/T 2423.3-2006 电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法试验Cab:恒定湿热试验
  • GB/T 2423.30 环境试验 第2部分:试验方法 试验XA和导则:在清洗剂中浸渍*2013-12-17 更新
  • GB/T 2423.31 电工电子产品基本环境试验规程 倾斜和摇摆试验方法
  • GB/T 2423.32 电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法.试验Ta: 润湿称量法可焊性
  • GB/T 2423.32-2008 电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法.试验Ta: 润湿称量法可焊性
  • GB/T 2423.33 环境试验 第2部分:试验方法 试验Kca:高浓度二氧化硫试验*2021-05-21 更新
  • GB/T 2423.34 环境试验.第2部分:试验方法 试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验
  • GB/T 2423.35 环境试验 第2部分:试验和导则 气候(温度、湿度)和动力学(振动、冲击)综合试验*2019-06-04 更新
  • GB/T 2423.36 电工电子产品环境试验 第2部分;试验方法 试验Z/BFc:散热和非散热试验样品的高温/振动(正弦)综合试验
  • GB/T 2423.37 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验L:沙尘试验
  • GB/T 2423.38 环境试验 第2部分:试验方法 试验R:水试验方法和导则*2021-05-21 更新
  • GB/T 2423.39 环境试验 第2部分:试验方法 试验Ee和导则:散装货物试验包含弹跳*2018-12-28 更新
  • GB/T 2423.4 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Db 交变湿热(12h+12h循环)
  • GB/T 2423.4-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Db 交变湿热(12h+12h循环)
  • GB/T 2423.40 环境试验 第2部分:试验方法 试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热*2013-12-31 更新
  • GB/T 2423.41 环境试验 第2部分:试验方法 风压
  • GB/T 2423.42 电工电子产品环境试验低温/低气压/振动(正弦)综合试验方法
  • GB/T 2423.43 电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法.振动、冲击和类似动力学试验样品的安装
  • GB/T 2423.44 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Eg:撞击 弹簧锤
  • GB/T 2423.45 环境试验.第2部分:试验方法 试验Z/ABDM:气候顺序
  • GB/T 2423.46 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ef:撞击 摆锤
  • GB/T 2423.47 环境试验 第2部分:试验方法 试验Fg:声振*2018-12-28 更新
  • GB/T 2423.48 环境试验 第2部分: 试验方法 试验Ff:振动 时间历程和正弦拍频法*2018-12-28 更新
  • GB/T 2423.49 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fe:振动--正弦拍频法
  • GB/T 2423.5 环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击*2019-05-10 更新
  • GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验 第2部分;试验方法 试验Ea和导则;冲击
  • GB/T 2423.50 环境试验 第2部分:试验方法 试验Cy: 恒定湿热 主要用于元件的加速试验
  • GB/T 2423.51 环境试验 第2部分:试验方法 试验Ke:流动混合气体腐蚀试验*2020-06-02 更新
  • GB/T 2423.52 电工电子产品环境试验 第2部分;试验方法 试验77:结构强度与撞击
  • GB/T 2423.53 电工电子产品环境试验 第2部分;试验方法 试验Xb:由手的磨擦造成标记和印刷文字的磨损
  • GB/T 2423.54 环境试验 第2部分:试验方法 试验Xc:流体污染*2022-07-11 更新
  • GB/T 2423.55 环境试验 第2部分:试验方法 试验Eh:锤击试验*2023-09-07 更新
  • GB/T 2423.56 环境试验 第2部分:试验方法 试验Fh:宽带随机振动和导则*2023-09-07 更新
  • GB/T 2423.57 电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法.试验Ei: 冲击.冲击响应谱合成
  • GB/T 2423.58 电工电子产品环境试验.第2-80部分:试验方法.试验Fi: 振动.混合模式
  • GB/T 2423.59 电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法.试验.Z/ABMFh:温度(低温、高温)/低气压/振动(随机)综合
  • GB/T 2423.6 电工电子产品环境试验 第2部分;试验方法 试验Eb和导则; 碰撞
  • GB/T 2423.6-1995 电工电子产品环境试验 第2部分;试验方法 试验Eb和导则; 碰撞
  • GB/T 2423.60 电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法.试验U:引出端及整体安装件强度
  • GB/T 2423.61 环境试验 第2部分:试验方法 试验和导则:大型试件砂尘试验*2018-12-28 更新
  • GB/T 2423.62 环境试验 第2部分:试验方法 试验Fx和导则:多输入多输出振动*2018-12-28 更新
  • GB/T 2423.63 环境试验 第2部分:试验方法 试验:温度(低温、高温)/低气压/振动(混合模式)综合*2019-05-10 更新
  • GB/T 2423.7 环境试验 第2部分:试验方法 试验Ec:粗率操作造成的冲击(主要用于设备型样品)*2018-12-28 更新
  • GB/T 2423.8 电工电子产品环境试验 第2部分;试验方法 试验Ed:自由跌落
  • GB/T 2423.9 电工电子产品环境试验 第2部分;试验方法 试验Cb: 设备用恒定湿热

* 在 GB/T 11313.1-2013 发布之后有更新,请注意新发布标准的变化。

GB/T 11313.1-2013的历代版本如下:

  • 2013年 GB/T 11313.1-2013 射频连接器 第1部分:总规范 一般要求和试验方法
  • 2000年 GB/T 11313.1-2000 射频连接器 第1-1部分;单或多系列空白详细规范
  • 1996年 GB/T 11313-1996 射频连接器 第1部分;总规范 一般要求和试验方法

 

GB/T 11313的本部分规定了射频连接器的一般要求和试验方法。本部分适用于通信、电子设备及类似设备中射频传输线用的连接器。


GB/T 11313.1-2013相似标准


推荐


GB/T 11313.1-2013系列标准

GB/T 11313.1-2013 射频连接器 第1部分:总规范 一般要求和试验方法 GB/T 11313.10-2012 射频连接器 第10部分:SMB系列射频同轴连接器分规范 GB/T 11313.101-2015 射频连接器 第101部分:MMCX系列射频同轴连接器分规范 GB/T 11313.11-2018 射频连接器 第11部分:外导体内径为9.5mm(0.374in)、特性阻抗为50Ω、螺纹连接的射频同轴连接器(4.1/9.5型)分规范 GB/T 11313.13-2018 射频连接器 第13部分:1.6/5.6和1.8/5.6型射频同轴连接器分规范 GB/T 11313.15-2018 射频连接器 第15部分:外导体内径为4.13mm(0.163in)、特性阻抗为50Ω、螺纹连接的射频同轴连接器(SMA型) GB/T 11313.16-2015 射频连接器 第16部分:外导体内径为7mm(0.276in)、特性阻抗为50Ω(75Ω)、螺纹连接的射频同轴连接器(N型)分规范 GB/T 11313.18-2013 射频连接器 第18部分:SSMA系列射频同轴连接器分规范 GB/T 11313.19-2013 射频连接器 第19部分:SSMB型射频同轴连接器分规范 GB/T 11313.2-2007 射频连接器 第2部分:9.52型射频同轴连接器分规范 GB/T 11313.201-2018 射频连接器 第201部分:电气试验方法 反射系数和电压驻波比 GB/T 11313.202-2018 射频连接器 第202部分:电气试验方法 插入损耗 GB/T 11313.24-2013 射频连接器 第24部分: 75Ω电缆分配系统用螺纹连接射频同轴连接器(F型)分规范 GB/T 11313.29-2015 射频连接器 第29部分:50Ω和75Ω用特性阻抗为50Ω、具有螺纹、推拉、快锁或滑轨式机架或面板用小型射频同轴连接器(1.0/2.3型)分规范 GB/T 11313.33-2001 射频连接器 第33部分;BMA系列射频连接器分规范 GB/T 11313.35-2021 射频连接器 第35部分: 2.92系列射频连接器分规范 GB/T 11313.36-2006 射频连接器.第36部分;特性阻抗为50Ω的搭锁连接微小型射频同轴连接器(MCX型) GB/T 11313.37-2015 射频连接器 第37部分:STWX8系列射频同轴连接器分规范 GB/T 11313.38-2018 射频连接器 第38部分: 50Ω背板和面板用模块滑入式射频连接器(TMA型)分规范 GB/T 11313.39-2018 射频连接器 第39部分:CQM系列快速锁紧射频连接器分规范 GB/T 11313.4-2007 射频连接器 第4部分: 外导体内径为16mm (0.63in)、特性阻抗为50Ω、螺纹连接的射频同轴连接器 (7-16型) GB/T 11313.40-2021 射频连接器 第40部分: 2.4系列射频连接器分规范 GB/T 11313.41-2021 射频连接器 第41部分: CQA系列快速锁紧射频连接器分规范 GB/T 11313.42-2021 射频连接器 第42部分:CQN系列快速锁紧射频连接器分规范 GB/T 11313.43-2018 射频连接器 第43部分:RBMA系列盲配射频同轴连接器分规范 GB/T 11313.58-2023 射频连接器 第58部分:SBMA系列盲插射频同轴连接器分规范 GB/T 11313.8-2015 射频连接器 第8部分:外导体内径为6.5mm(0.256in)、特性阻抗为50Ω(75Ω)、卡口连接的射频同轴连接器(BNC型)分规范 GB/T 11313.9-2013 射频连接器 第9部分:SMC系列射频同轴连接器分规范

GB/T 11313.1-2013 中可能用到的仪器设备


谁引用了GB/T 11313.1-2013 更多引用





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