KS C IEC 60749-7:2004
半导体器件.机械和气候试验方法.第7部分:其他残余气体的分析和内部含水量的测量

Semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 7：Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

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标准号

KS C IEC 60749-7:2004

发布

2004年

发布单位

韩国科技标准局

替代标准

KS C IEC 60749-7:2020

当前最新

KS C IEC 60749-7:2020

 

 

适用范围

이 규격은 금속 또는 세라믹 밀봉 소자 내의 대기 중 수증기 및 다른 기체들의 함량을 측

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