KS E 3076-2002
单程二氧化硅和二氧化硅的X.射线荧光分析

Methods for X－ray fluorescence spectrometric analysis of silica stone and silica sand

作废

单程二氧化硅和二氧化硅的X.射线荧光分析 是非强制性国家标准，您可以免费下载预览页

高级搜索

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试：免费下载 KS E 3076-2002 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

注意：点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号: KS E 3076-2002
发布: 2002年
发布单位: 韩国科技标准局
替代标准: KS E 3076-2017
当前最新: KS E 3076-2022

适用范围: 이 규격은 규석과 규사 중의 이산화규소와 산화알루미늄, 산화칼륨, 산화티타늄 및 산화제이철

KS E 3076-2002相似标准

SN/T 2949-2011 出口滑石中二氧化硅、三氧化二铁、三氧化铝、氧化钙、氧化镁的测定 X射线荧光光谱法 SN/T 1097-2002 出口磷矿石中五氧化二磷、氧化钙、三氧化二铁、氧化铝、氧化镁、二氧化硅和氧化钾的X-射线荧光光谱测定方法 DB13/T 5588-2022 钢渣全铁、二氧化硅、氧化钙、氧化镁和三氧化二铝含量的测定波长色散X射线荧光光谱法 DB34/T 2375-2015 粉煤灰中二氧化硅含量测定 X 射线荧光法 SN/T 0481.10-2011 出口矾土检验方法第10部分：二氧化硅、三氧化二铁、三氧化二铝、氧化钙、氧化镁、氧化钾、五氧化二磷和二氧化钛的测定 X射线荧光光谱法

推荐

纳米探针 | 表面等离子体增强 NIR-II 荧光：用于小鼠穿颅脑成像的多层纳米探针

Figure 2D光谱分析表明，在没有二氧化硅层的GNR-Pdots中，荧光被猝灭；在二氧化硅厚度为3.7 nm的GNR@SiO2-Pdots中明显增强。随着二氧化硅厚度的进一步增加，NIR-II发射在8.6 nm二氧化硅厚度处达到最佳增强，在11.4和15.3 nm二氧化硅厚度处减弱。结果一致表明，表面等离子体增强的NIR-II荧光明显依赖于二氧化硅层的厚度。...

X射线衍射(XRD)在职业卫生检测中的应用

意大利GNR公司是一家老牌的欧洲光谱仪生产商，其X射线产品线诞生于1966年，经过半个多世纪的开发和研究，该产品线已经拥有众多型号满足多个行业的分析需求。...

对重晶石用高纯化学试剂硫酸钡（BaSO4）与岩石标样按一定梯度合成8个标准物质,其中含氧化钡和二氧化硅等8种主次量组分。2用合成硼酸钙标样建立硼酸钙的熔融制样X射线荧光光谱（XRF）定量分析方法。通过精密度和准确度分析,表明该方法不仅能很好地测出氧化钙、氧化镁等主次量组分的含量,还能准确地用差值法计算出硼的含量。3用合成重晶石标样建立重晶石熔融制样和压片制样X射线荧光光谱（XRF）定量分析方法。...

X荧光光谱分析特点

由于X射线荧光的能量比较大，样品被激发后，产生的特征X射线极易被吸收，而从样品中发射出来的荧光很少，也即是荧光产额很少。因此采用X荧光光谱仪测量微量元素，不是特长，因此不要把精力过分地放在低含量元素分析上。同理，对于轻元素，如硼、碳、氮、氧等，也不要指望有多好的检出限；但对于高含量的轻元素分析，却有很高的精度。...

KS E 3076-2002 中可能用到的仪器设备

氧/CO2分析仪

KS E 3076-2002单程二氧化硅和二氧化硅的X.射线荧光分析