KS D ISO 18118-2005
表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南

Surface chemical analysis－Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy－Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials

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标准号

KS D ISO 18118-2005

发布日期

2005年12月28日

实施日期

2005年12月28日

废止日期

无

中国标准分类号

G04

国际标准分类号

71.040.40

发布单位

KR-KATS

适用范围

이 규격은 오제(Auger) 전자 분광기와 X선 광전자 분광기를 사용하여, 균질 재료의 정

KS D ISO 18118-2005 中可能用到的仪器设备