ASTM E307-72(2014)
升高温度时标准光谱发射的标准试验方法

Standard Test Method for Normal Spectral Emittance at Elevated Temperatures


标准号
ASTM E307-72(2014)
发布
1972年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM E307-72(2019)
当前最新
ASTM E307-72(2019)
 
 
引用标准
ASTM E349
适用范围
1.1 样本和黑体的有效温度彼此必须在 1 K 以内。然而,由于温度均匀性通常不优于几开氏度,因此出现了实际限制。
5.1.2两束光路长度必须相等,或者仪器应在非吸收性气氛或真空中工作,以消除两束大气吸收差异的影响。在许多情况下,空气中的测量很重要,并且不一定会得到与真空中相同的结果,因此双光束仪器的光路相等变得非常关键。注 3ߞ分光光度计的非常仔细的光学对准是需要最大限度地减少仪器两个路径上的吸收率差异,并仔细调整斩波器时序以减少“串扰”。 (参考信号和样本信号的重叠)以及减少光谱仪中杂散辐射的预防措施需要保持零线平坦。经过最佳调整,“1008201;%线”将持平至38201;%;以内这两个测量值应在这些限制内可重复(见 7.3,注 6)。
5.1.3 除棱镜单色仪中的棱镜和光栅单色仪中的光栅外,均须采用前表面镜光学器件,并且需要强调的是,两束光必须采用等效的光学元件,以减少并通过光学元件的吸收来平衡光束的衰减。建议光学表面不含 SiO2 和 SiO 涂层; MgF2 可用于长时间稳定镜面。这些涂层的光学特性至关重要,但如果在测量期间所有光路均固定,或者工作模式之间的入射角不发生变化(在“08201;% line”期间,“” “”,则可以放宽要求) ;1008201;% 线,” 和样本测量)。建议所有光学元件充分充满能量。
5.1.4 两束光的源孔径和视场孔径必须相等,以确保设备比较的两束光的辐射通量与源面积相等和发射立体角相等。在某些情况下,在比较替代测量技术时可能需要定义源和样本的立体角。
5.1.5 探测器放大器系统的响应必须随入射辐射通量线性变化。 1.1 本测试方法描述了一种高精度技术,用于测量导电材料或具有导电基材的材料的法向光谱发射率,温度范围为 600 至 1400 K,波长为 1 至 35 μ ;米。 1.2 该测试方法需要昂贵的设备和相当精细的预防措施,但......

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