ISO 22493-2014
微束分析. 扫描电子显微术. 词汇
Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Vocabulary
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- 标准号
- ISO 22493-2014
- 发布日期
- 2014年04月
- 实施日期
- 废止日期
- 无
- 国际标准分类号
- 01.040.37;37.020
- 发布单位
- IX-ISO
- 引用标准
- ISO 704-2009 ISO 1087-1-2000 ISO 10241-1992 ISO 18115-1-2013 ISO 23833-2013
- 被代替标准
- ISO 22493-2008 ISO/FDIS 22493-2013