GB/T 30703-2014
微束分析 电子背散射衍射取向分析方法导则
Microbeam analysis.Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction
GBT30703-2014, GB30703-2014
GB/T 30703-2014 发布历史
本标准给出了使用电子背散射衍射(EBSD)技术进行晶体取向测量的指南,使测量数据具有较高的可靠性和重复性,本标准确立了试样制备、仪器配置、校正以及数据采集的一般原则。本标准适用于EBSD对块状晶体样品的晶粒取向分析。
GB/T 30703-2014由国家质检总局 CN-GB 发布于 2014-06-09，并于 2014-12-01 实施。
GB/T 30703-2014 在中国标准分类中归属于: G04 基础标准与通用方法，在国际标准分类中归属于: 71.040.50 物理化学分析方法。
GB/T 30703-2014 采用标准及采用方式
- IDT ISO 24173:2009微光束分析.用电子背散射衍射进行定向测量的指南
GB/T 30703-2014 发布之时，引用了标准
- GB/T 27025-2008 检测和校准实验室能力的通用要求
- ISO/IEC Guide 98-3
GB/T 30703-2014的历代版本如下：
- 2014年 GB/T 30703-2014 微束分析 电子背散射衍射取向分析方法导则
- 标准号
- GB/T 30703-2014
- 别名
- GBT30703-2014
GB30703-2014 - 发布
- 2014年
- 采用标准
- ISO 24173:2009 IDT
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 30703-2014
- 引用标准
- GB/T 27025-2008 ISO/IEC Guide 98-3
推荐
GB/T 30703-2014 中可能用到的仪器设备
电子背散射衍射系统EBSD系统
电镜用X射线能谱仪EDS
X射线能谱仪(EDS)
光学成像-CCD相机
X荧光光谱/XRF（能量色散型X荧光光谱仪）
透射电镜TEM
X射线相机
扫描探针/原子力显微镜SPM/AFM
扫描电镜SEM
光学位移台
X射线散射仪
其它光学测量仪
显微图像分析系统
电镜制样设备
X射线探测装置
电镜附件及外设
超分辨率显微镜
阴极荧光（CL）
数码显微镜
显微操作
纳米压痕仪、划痕仪
建筑材料无损检测仪器/设备
其它物性测试仪器
工业CT
等离子体表面处理仪
电子束刻蚀
超声波清洗机
移液工作站/智能化样品处理平台/全自动稀释配标仪
镶嵌机、镶样机
抛光机/磨抛机/磨样机
细胞成像/活细胞成像
电泳仪及附件
辐射仪/射线检测仪
其他包装业专用
其他物性分析仪/测定仪
半导体专用检测仪器设备
水泥相关仪器
化学/化工
地质/冶金