NF X21-016-2014
微束分析. 分析电子显微术. 词汇

Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Vocabulary


 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 NF X21-016-2014 前三页,或者稍后再访问。

如果您需要购买此标准的全文,请联系:

点击下载后,生成下载文件时间比较长,请耐心等待......

 

标准号
NF X21-016-2014
发布日期
2014年03月26日
实施日期
2014年03月26日
废止日期
国际标准分类号
01.040.37;01.040.71;37.020;71.040.50
发布单位
FR-AFNOR
适用范围
La présente Norme internationale définit les termes utilisés dans les applications de la microscopie électronique analytique (MEA). Elle couvre à la fois des concepts généraux et des concepts spécifiques, classés selon le rang hiérarchique qu'ils occupent dans un ordre systématique.La présente Norme internationale s'applique à tous les documents de normalisation relatifs à lapratique de la MEA. En outre, certaines parties de la présente Norme internationale sont applicables aux documents relatifs à la pratique de techniques apparentées (par exemple MET, MEBT, MEB, EPMA, EDX) pour la définition des termes communs à ces techniques.




Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号