BS ISO 13095:2014
表面化学分析. 原子力显微镜学. 纳米结构测量用AFM探针柄轮廓的现场鉴定程序
Surface Chemical Analysis. Atomic force microscopy. Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement
- 标准号
- BS ISO 13095:2014
- 发布
- 2014年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS ISO 13095:2014
- 引用标准
- ISO 11039 ISO 11952 ISO 18115-2:2010 ISO/TS 80004-4:2011
BS ISO 13095:2014相似标准
推荐
导电型原子力显微镜的研制和应用研究
扫描隧道显微镜只能测量导电的样品，原子力显微镜对样品是否导电没有特殊要求，但是无法测量样品导电性。在实际应用中，更多的研究对象是导电质与非导电质的混合物。特别是近年来人们感兴趣的金属有机复合材料、纳米颗粒镶嵌材料、纳米电子学等方面，都涉及到局域导电性及非导电性等问题。 ...
技术文章：Park SmartLitho一种利用AFM光刻技术制作纳米图案的新方法
I 2022年Park AFM奖学金项目公布第一位获奖人第二十七期：Nature Communications I 有机聚合物半导体的电子和纳米机械特性的动态自稳定第二十六期：新型全自动原子力显微镜Park FX40第二十五期：原子力显微镜和扫描电容显微镜在图像传感器中的应用第二十四期：高真空中二维材料的表面电位测量第二十三期：ScienceAdvances I 类皮肤二维像素化全色量子点光电探测器第二十二期...
邀 请 函：2018布鲁克原子力显微技术研讨会-成都
原子力显微镜（AFM）作为纳米尺度上的形貌表征以及量测设备为科研及工业界广泛接受。随着近年来技术的发展，AFM在进一步提升分辨率以及操作智能化的基础上，更拓展为测试材料及器件的力学，磁学，电学，电化学，热学以及纳米光学，光谱学等诸多物性的综合表征系统，也为研究多物理场的耦合效应提供了很好的实验及测试平台。...
邀 请 函：2018布鲁克原子力显微技术研讨会-深圳
原子力显微镜（AFM）作为纳米尺度上的形貌表征以及量测设备为科研及工业界广泛接受。随着近年来技术的发展，AFM在进一步提升分辨率以及操作智能化的基础上，更拓展为测试材料及器件的力学，磁学，电学，电化学，热学以及纳米光学，光谱学等诸多物性的综合表征系统，也为研究多物理场的耦合效应提供了很好的实验及测试平台。...