KS B ISO 13653:2006
光学和光学仪器.常规光学测试方法.像场中相对照度的测量

Optics and optical instruments-General optical test methods-Measurement of relative irradiance in the image field


 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 KS B ISO 13653:2006 前三页,或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准,
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购(由第三方提供)。

 

标准号
KS B ISO 13653:2006
发布
2006年
发布单位
韩国科技标准局
替代标准
KS B ISO 13653-2006(2016)
当前最新
KS B ISO 13653-2006(2021)
 
 
适用范围
이 규격은 광학 분광 파장(l)의 범위가 100 nm에서 1 mm인 광학 결상계에 대하여

KS B ISO 13653:2006相似标准


推荐

产品推荐丨量子效率测试系统

应用领域无机光致发光有机光致发光EL器件封装前体操作软件关于我们上海如海光电科技有限公司是一家专业从事光学仪器、光电类模组、光学部件等设计、研发与生产研发型企业。公司拥有专业光纤光谱仪与半导体激光器制造技术,光学探头研发光谱检测技术,是专业光学系统定制,光学仪器零部件设计、仪器及理化整体方案供应商,已国内多家主流科研、研究机构开展深度合作。点击下方链接关注我们~...

光学仪器厂家(代理商)汇总

(上海)有限公司021-28986875高分辨率台式扫描电镜、飞纳扫描电镜、光学电子显微镜日本电子株式会社(JEOL)010-68046321钨灯丝扫描电子显微镜、热发射扫描电子显微镜聚束科技(北京)有限公司010-67832505高通量扫描电子显微镜、全自动化电子显微镜厦门超新芯科技有限公司0592-6661220高真空存杆仪、电镜样品台系统、扫描电镜样品台系统以上是光学仪器厂家/代理商汇总,若有您知道还没统计上...

影响显微成像质量因素--显微镜镜头

所以在需要精密尺寸及位置测量视觉系统,尽量采用短波长单色光作为照明光源,对提高系统精度有很大作用。...

确定连续激光器损伤阈值挑战

大于100皮秒脉冲持续时间通常导致常规熔化。CW激光损伤是由光学器件热诱导应力引起加热或机械故障引起。因此,暴露时间以微秒计准CW激光损伤是由电场热损伤组合引起。指定测试CW LIDT独特挑战使用CW激光器损伤阈值测试提出了在脉冲激光损伤测试不存在挑战。CW测试需要考虑一些主要参数包括暴露时间、光束直径、结构材料、样品上缺陷安装选择。...


KS B ISO 13653:2006 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号