KS C 6049-1980
半导体集成电路试验法和耐久性能试验方法

Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Semiconductor Integrated Circuits


 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 KS C 6049-1980 前三页,或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准,
点击右侧 “购买” 按钮开始采购(由第三方提供)。

点击下载后,生成下载文件时间比较长,请耐心等待......

 

标准号
KS C 6049-1980
发布
1980年
发布单位
韩国科技标准局
替代标准
KS C 6049-1980(2020)
当前最新
KS C 6049-1980(2020)
 
 
适用范围
이 규격은 주로 산업용 및 민생용 전자기기에 쓰는 집적회로 (혼성 집적회로를 제외함)의 사

KS C 6049-1980相似标准


推荐

AQG | 功率半导体模块封装可靠性试验-HTXB测试

环境可靠性、寿命耐久失效分析等一站式测试服务。...

服务项目 | 车规功率模块AQG324认证服务

图1 AQG认证项目介绍图2 AQG认证项目介绍二 广电计量关于AQG324认证服务方案广电计量在Si基功率半导体模块、SiC模块等相关测试有着丰富的实战经验,为众多半导体厂家提供模块的规格书参数测试、竞品分析、环境可靠性、寿命耐久失效分析等一站式测试服务。...

484项拟立项国家标准项目征求意见,这些与仪器仪表有关!

16-2部分:微波集成电路预分频器制订9无损检测泄漏检测气体参考漏孔的校准制订10热环境的人类工效学物理量测量仪器制订11封闭管道中流体流量的测量用安装在充满流体的圆形截面管道中的涡街流量计测量流量修订12环境试验第3部分:支持文件导则温度试验性能确认修订13制造系统能源效率以及其他环境影响因素的评估第5部分:环境影响评估数据制订14桑叶提取物中1-脱氧野尻霉素的检测高效液相色谱法制订15铂合金中铂含量的测定火花原子发射光谱...

半导体集成电路失效分析检测装备之高低温试验

高低温交变湿热试验箱与恒温恒湿试验箱属同类产品,只是叫法不同,高低温交变湿热试验箱是航空、汽车、家电、科研等领域必备的测试设备,用于测试确定电工、电子及其他产品及材料进行高温、低温、交变湿热度或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能。...





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号